技术编号：39017410
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及调节机构领域，尤其是基于x射线测厚设备上的探测器调节机构。背景技术、随着我国现代化高速发展，在各类薄膜生产行业，其客户对于产品精度的要求愈发严格，传统的人工手测已经满足不了其精度要求，而基于此背景下的x射线面密度/厚度探测仪就诞生了。、由于薄膜生产厂家的生产设备各不相同，其走带方式角度也会发生变化，一般的走带方式是平行于地面，这样测厚仪的探测器也只用平放就可以测量，而如果是斜的走带面，加上空间也不足的情况下，传统探测器就无法测量。技术实现思路、为了克服现有的测厚仪探测器无法调节的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。