技术编号:39183651
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电磁学领域,具体涉及一种基于多层快速多极子的电磁耦合参数提取方法及其装置。背景技术、阵列天线广泛应用于远程预警雷达、机载雷达等领域,在进行阵列天线设计及优化工作时,需要提取阵列天线的s参数进行隔离度分析、以及提取阵列的单元方向图进行优化工作。、目前常见的方法是使用矩量法(method of moments,mom)或者有限元法(finiteelement method,fem)对天线阵列进行整体的仿真计算后,再提取阵列的s参数或是单元方向图,该种方法虽然计算精度高,但是在进行仿真计...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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