技术编号：40094503
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试器件，特别涉及一种多通道可编程电容系统。背景技术、在如今电子技术飞速发展的大趋势下，常涉及到对电子产品器件进行调试开发，由于产品开发调试灵活性需求高，一些关键电路参数不确定，并且关键电子产品器件具有高价值和高度重要性等特性，如涉及需要电容器件的，去耦电路、滤波电路、旁路电容、震荡电路、时钟电路等电路，需要进行多次计算或调试，以选择出最佳匹配参数的电容值，通常选用多次更换拆焊电容的方式进行调试，但效率较低。、因此，电子产品器件调试开发等要求灵活性高的方式替代，从而需要一种多通道可...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。