技术编号：40199564
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试，具体地，涉及一种快速测试光电探测器芯片的装置。背景技术、光电探测器芯片是一种集成电路芯片，其主要功能是将光信号转换为电信号。这种转换基于光电效应，即当光照射到物质上时，光子能量转换为电子的动能，从而产生电流。光电探测器芯片广泛应用于光通信、生物医疗、环境监测等领域，在光通信行业激光器的生产测试环节中，coc老化制程前，还需要进行单个激光器芯片(laser diode，ld)的光电性能测试，以便在老化前进行一次激光器芯片(ld)性能的筛选，将性能有问题的激光器提前挑选出来，从...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。