技术编号:40375667
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体镀膜,具体涉及一种镀膜设备进片室装置及抽真空方法。背景技术、镀膜设备中的镀膜进片室为硅片、玻璃的镀膜提供真空环境,只有达到真空环境后,镀膜工艺才能开始。从载板承载硅片准备进片,进片室内门阀开启,此时进片室内为标准大气环境(.xpa),到载板承载硅片输送至镀膜进片腔室后,进片室的门阀关闭,需将进片室抽至高真空状态下,以期满足下个工艺室的真空环境,用于实现连续生产。、实际生产过程中,抽真空时,在标准大气环境抽至高真空状态下,硅片对气流的流动非常敏感,相关气流中直接向硅...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。