技术编号：40485263
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及存储器测试，特别是涉及一种测试数据处理方法、装置及存储器件测试系统。背景技术、半导体存储器件存在容量增大、工作频率提高和工艺制程复杂度增加的发展趋势，因此，通过生产环节的测试在出厂之前发现存储器件的故障，以降低存储器件出厂后的使用故障率是非常重要的。测试方法通常是通过处理器将预先设置的数据写入被测存储器件，然后对写入数据进行读取，将写入的数据和读取的数据进行比较，以此来测试存储器件是否出现故障。对于批次存储器件的测试，可通过多个被测存储器件进行多次测试后统计累计故障次数，得到批次存储...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
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