技术编号：40571349
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及终端设备领域，尤其涉及一种充电测试方法、装置、测试设备、介质及系统。背景技术、在终端设备出厂之前，需要对终端设备进行充电场景测试，充电场景测试涵盖多个充电温度设置标准，需要在每个充电温度设置标准下进行测试。终端设备充电测试完成后进行放电，放电结束后需要进行降温，才能进行下一次测试。、目前，在测试过程中容易出现终端设备降温后，终端设备的温度过低或者温度过高的情况，如果在这样的情况下对终端设备进行充电场景测试，容易造成终端设备进行测试时的温度偏离充电温度设置标准，进而无法保证测试可靠性...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。