技术编号：40599416
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及高反射率测量领域，具体涉及一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法。背景技术、现代光学技术中，高反射率测量技术是以激光陀螺、高精度无源谐振腔和高功率激光器为代表的多种激光系统的关键技术。在这些激光系统中均使用了大量的高反射率（r>.%）光学元件，此类光学元件的反射率精度一定程度上反映了激光系统的性能。众所周知，要想在制造领域上突破更高精度，首先需在检测技术上提高测量精度。、通常用来测量样品反射率的方法大致分为以下三种：分光光度法、反射比率法、光腔衰荡法（crd）...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。