技术编号：40716945
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及测试和测量仪器，且更特别地涉及使用机器学习以更好地将由不同测试和测量仪器作出的测量结果进行相关。背景技术、tektronix裕度测试器(tmt)具有：内置的发射机和接收机两者，其当前支持pciegen和gen标准。参见https://www.tek.com/en/products/pciemargintester。、用于对dut发射机进行测试的传统方法使用实时(rt)示波器以获取波形，且然后使用诸如sigtest、seasim和dpojet之类的测量软件(参见https://w...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。