技术编号：40939435
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及光电设备测试，尤其涉及一种针对待测光电器件的测试装置。背景技术、光电器件是利用光电效应制成的各种功能器件，包括发光二极管、激光二极管、光电耦合器等。、为了确保光电器件的性能，需要对光电器件进行光电转换效率、响应性能等测试，对光电器件进行现场测试时，往往需要现场搭建测试系统，测试效率较低，另外，经常需要对不同类型光电器件依次进行电转光测试或光转电测试，进行电转光测试时需要搭建电转光测试系统，进行光转电测试时需要搭建光转电测试系统，现场搭建两套测试系统过程复杂，使得测试效率进一步降低。...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。