技术编号:41350892
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体生长衬底材料领域,具体涉及一种氮化镓衬底的结构和制备方法。背景技术、gan单晶生长衬底虽然在价格和尺寸上存在劣势,但同质生长衬底外延的gan层要比异质衬底(si、sic)外延生长的gan层的缺陷密度少得多,比如在si生长衬底上异质外延gan,位错密度一般在ecm-附近,而在gan自支撑衬底上外延gan位错密度通常降低到ecm-左右。所以,不论是激光芯片抑或者是功率、射频器件,gan单晶生长衬底都将会是高性能、高稳定的高端产品的最优甚至唯一选择。、一方面,商用的ga...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。