技术编号：41695138
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种发光二极管封装元件检测方法，特别涉及一种提供发光二极管封装元件剖面的检测方法。背景技术、发光二极管因其体积小、寿命长、节能高效等优点，广泛应用于照明、显示等领域。发光二极管具有多种封装结构，其中常见的插件式发光二极管(lamp led)具有毫米、毫米、圆形、凹形、椭圆及方形等多元种类，可普遍应用于消费性产品、家电、交通标志、户外显示屏和工业设备等应用。、请参阅图所示，其显示常见的插件式发光二极管封装元件。此类插件式发光二极管封装元件的基本组成包括一发光二极管晶粒、一...
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