技术编号：51596
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要本专利涉及一种LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统，其主要特征在于将一片施密特校正板插入主镜与被测物体的光路中，施密特校正板的一面设计成高次非球面，施密特校正板最主要的作用是校正主次镜产生的球差，其不仅使得激光聚焦光斑直径变得更小，还可以使得该LIBS系统具有光谱探测和显微成像的双重功能。专利说明LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统技术领域[0001]本专利涉及光学设计领域，尤其是一种LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统。背景技术[0002]LIBS技术(激光诱导击穿光谱探测技术)是一种利用高功率激光...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。