技术编号：5823767
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种方法，尤其是一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法。背景技术X射线荧光光谱仪分析是一种相对分析方法，即在相同条件下，测量出待测样品中元素的X射线荧光强度，与标准样品的X射线荧光强度进行对比，由标准样品的元素含量， 来计算待测样品中元素的含量。因此，必须保证标准样品与待测样品之间有尽量一致的物理性质；但在实际过程中，每个人员的制样时均有较大差异。在我厂的X射线荧光光谱仪器上测试简单黄铜时，不同操作人员对同一试样进行测试时，元素含量差别...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。