技术编号：5841720
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种，特别是有关于一种应用于集 成电路元件测试的。背景技术在现有技术的集成电路元件测试所使用的探针，常用的有弹簧探针(pogo pin)或其它的探针式电子连接器(pin connector)等，为了提高探 针使用效能，多半集中在改善探针内部元件的弹性，以提高探针的使用效 能，而不会轻易伤害到待测元件等。例如现有技术中的美国公告专利 US6046597、 US7102369、 US6791345、 US6859504、及US5634801等所揭露 ...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。