技术编号：5844344
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及能够通过对检查对象物照射X射线，检测透过检查对象物的X射线量，推断检查对象物的质量，基于该质量筛选检查对象物的x射线检查装置。背景技术迄今为止，公知有通过测定检查对象物的物理量来判定该检查对象物的优劣的X 射线检查装置。例如，在下述的专利文献1中公开了设置有X射线源、X射线检测部、数据处理部、显示部、区域提取处理部、质量计算部、显示数据生成部的x射线检查装置。区域提 取处理部，提取来自x射线检测部的检测信息中的一部分，在数据处理部的x射线图像生成...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。