技术编号：5846133
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是有关于一种测试机台，且特别是有关于一种落下测试(Drop Test)的测试机台。背景技术一般而言，大部分的电子装置在封装完成之后，会通过成品测试，以确保电 子装置的生产品质与良率。常见的成品测试例如落下测试、老化测试、电性测试、 拉力测试等等。由于电子装置很容易因碰撞或掉落所产生的冲击，而导致其内部的 电子元件受损。因此，业界常以落下测试来计算电子元件掉落在地面时的抗震能力。一般的落下测试是通过将电子装置由一高度自由落下，使其撞击地面，进而 可...
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