技术编号：5871323
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种屏蔽效能测试系统及其测试方法，特别是一种用于测量电磁屏蔽室对近区低频强磁场屏蔽效能的测试系统及其测试方法。 背景技术 低频磁场干扰是一种很难屏蔽的干扰。通常电磁屏蔽设计所考虑的频率范围在10kHz以上频段，用于电磁屏蔽室屏蔽效能测量的装置，主要测量电场以及高频电磁场，10kHz以下频段一般不予考虑。GB/T 12190-2006《电磁屏蔽室屏蔽效能的测试方法》中详细规定了屏蔽室屏蔽效能的测量方法，其规定的频段从9kHz～18GHz。本单...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。