技术编号：5892859
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉采用高介电常数陶瓷的层叠陶瓷电容以及具有负电阻温度特性的其他电子零件的试验方法以及试验装置。背景技术 这样的电子零件，在作为产品出厂前进行各种试验。试验中包含老化试验。众所周知，这种老化试验是在额定以上的一定温度(老化温度)下设定额定以上的一定电压(老化电压)以及由规定的短时间(老化时间)决定的规定的负荷量，加上与所述负荷量等量的负荷对电子零件进行老化之后，测量其内部的绝缘电阻，其绝缘电阻降低到规定以下的电子零件作为不合格品从合格品中排除出去。在这...
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