技术编号:5915725
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种电成像仪器探头测试与刻度装置。 背景技术电成像仪器探头是仪器的核心探测元件,在仪器研制过程中及仪器下井测试前需要对其进行检验和刻度。目前探头刻度装置各探针与探头电扣接触压力不均勻,多数探针与电扣非法向接触,各对探针和电扣的接触电阻相差较大,影响测试和刻度的精度;另外, 现有的测试及刻度装置采用固定阻值的负载电阻,不便于模拟不同电性参数地层条件下的探头性能测试。实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种探针与电扣法向接触且负载电阻可调...
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