技术编号：5930975
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及边际扫瞄测试界面的，尤其是指一种适用于。背景技术 随着晶片封装及多层印刷电路板技术的复杂化，传统以针床的测试方式已难于和印刷电路板上的节点接触，且由于表面粘着技术的成熟化，使得IC多已直接粘着在电路的表面上，因而造成IC内部讯号直接量测的困难。为解决此一问题，边际扫瞄(Boundary scan)技术便因应而生，例如JTAG(Joint Test Action Group)的boundary scan，其正式标准名称为IEEE1149.1，及IE...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。