构造无故障屏蔽奇偶测试的扫描链和扫描森林的方法技术资料下载

技术编号:5933316

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本发明属于集成电路可测试性设计背景技术首先,介绍背景知识和相关定义测试在芯片封装以后对芯片质量进行检测的方法。由于芯片封装以后对芯片的内部电路无法直接访问,因此对芯片的测试采用的方法为在芯片的输入端置入测试向量,并在芯片输出端收集测试响应。将实际所得测试响应与无故障电路所应得测试响应进行比较,从而判断芯片电路有无故障。测试向量测试向量是指通过芯片输入端置入内部电路的一组逻辑值,该组逻辑值表示了测试时应加在芯片输入端的电平的高低。数字电路中用逻辑值“1”表示...
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