技术编号：5939223
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于感测研究区域中的目标物质的感测装置和分析装置。本发明还涉及用于感测研究区域中的目标物质的对应的感测方法。背景技术US7317534B2提供了一种测量方法，包括具有膜层的测量单元，该膜层具有探测区和参考区，目标分子固定到探测区的表面，且没有配体固定到参考区的表面。光电探测器探测分别在探测区和参考区的全内反射中反射的光束的强度。此外，基于参考区的测量的结果来校准探测区的测量的结果。US2005/0052655A1描述了一种干涉仪，该干涉仪包括光学...
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