技术编号:5943631
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种高精度光纤长度测量系统。 背景技术高精度光纤长度测量系统在光纤通信系统中具有重要的应用价值。传统的光纤测量方法主要包括光时域反射仪(OTDR),光频域反射仪(OFDR),光低相干反射仪(OLCR)等。其中OTDR是基于后向瑞利散射和菲涅尔反射原理制成的,是目前最广泛的测量光纤长度的仪器。OTDR的优点是测量长度可达上百公里,缺点是精确度较差,只能达到米的量级,且不可测量短距离光纤,设备体积庞大。OFDR和OLCR的测量精度虽然相对较高,分别可...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。