技术编号：5950043
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光谱分析方法，特别是一种X射线荧光光谱分析方法。背景技术X射线荧光(XRF)光谱分析技术是一种测定材料的元素组成的方法，它通过用X射线照射试样并观测分析试样发出的二次荧光X射线来实现。一般来说，XRF系统包括X射线源(X光管或放射性同位素)和用于检测从试样发出的二次X射线并确定其能量或波长的装置。一定能量或波长的X射线的强度与试样中的元素含量有关，通过计算机软件来分析数据并确定含量。传统的XRF方法根据其X射线光谱分析方法而分为两种，一种是能...
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