技术编号：5965178
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于激光测量，具体涉及一种光学元件透过率的测量方法及装置，特别是用于大能量、高重频紫外脉冲激光的光学镜片透过率的测量方法及其装置。背景技术光学元件透过率是指从光学元件出射的辐射光通量与投射到该光学元件的辐射光通量之比，它是光学元件能量传输的重要指标。由于光学元件透过率直接地反映了其辐射光通量的损耗与成像质量的好坏，所以对光学元件的透过率的测量是非常重要的。 目前常用的测量光学元件的激光透过率的方法是单通道测量法。如图1所示，采用高稳定的固体激光光源，...
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