技术编号:6010069
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及固体材料次级电子发射特性测试,特别涉及具有智能测控技术的固体材料二次电子发射系数测试装置。背景技术所谓二次电子发射(Secondary Electron Emission),就是指具有一定能量或速度的电子(或离子)轰击物体表面时,会引起电子从该物体表面发射出来的现象。从样品表面发射的二次电子在数量上可多于或少于一次电子,在能量上也呈现一定分布,其中包括一次电子的弹性散射电子、非弹性散射电子、真二次电子、俄歇电子等,有时还有其它复杂现象伴随二次电子...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。