技术编号：6019046
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于测试技术，涉及对用于挠性陀螺信号器测试的升降装置的改进。 背景技术挠性陀螺信号器测试的升降装置是测量挠性陀螺信号器的测试装置的一部分，参见图1，测试装置由升降装置、安装在数显分度头上的导磁体15和信号器输出信号处理系统组成。测量时，按试验要求转动分度头带动导磁体15相对于被测信号器16摆动一定的角度，采集信号器16的输出进行处理。在测试时，需要精确测定被测信号器16与导磁体15 之间的水平距离t，其精度达到微米级。目前的升降装置由底座17、升降螺...
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