技术编号：6019530
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及对低维导电材料的疲劳性能测试系统和测试方法的建立，具体为一种低维导电材料的弯曲疲劳可靠性的测试系统，及其被测试样体内裂纹萌生与扩展信息的获得和材料疲劳寿命的测试方法。背景技术低维导电薄膜材料在现今电子信息、工业及医学等领域中有着广泛的应用，如微/ 纳电机械系统(MEMS/NEMS)中的微电子触发开关，以及各种心血管支架用材料等。上述器件在实际服役过程中承受往复弯曲、拉伸或扭转等复杂的交变疲劳载荷的作用，了解器件中导电薄膜材料的疲劳性能对其设计和使...
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