技术编号：6030961
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种，特别涉及一种可变双观测点的。随着集成电路(Integrated Circuit，简称IC)设计技术和制造工艺的不断发展，数字系统的工作频率在迅速提高。为了确保数字系统的正常工作，必须对它们进行测试。IC测试包含两方面的内容逻辑测试和时延测试(Delay Testing)。逻辑测试验证系统逻辑功能的正确性，即在给定输入的情况下、测试其是否输出正确的响应。时延测试则验证系统时间特性的正确性，即在给定输入的情况下、测试其是否能在规定的时钟周期内输...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。