技术编号：6042391
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种精铝电解质成分的分析方法，尤其是一种精铝电解质的X射线荧光快速分析方法。背景技术精铝电解质的成分关系到精铝生产的工艺稳定和产品质量。目前精铝电解质成分的分析方法，一直沿用传统的化学分析方法。由于国内仅有少数生产精铝的厂家，而且存在精铝电解生产体系的差异，所以迄今没有统一的国家分析标准。这也就导致对精铝电解质成分的分析测定必须分开进行，以纯氟体系精铝电解质为例，其中的氟化钙、氟化钠采用原子吸收分光光度法测定；氟化钡采用硫酸钡重量法测定；而氟化铝...
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