技术编号：6042838
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种，测量销用于确定待测孔的位置度是否符合要求，测量销的尺寸包括测量销的名义尺寸和测量销的尺寸偏差，获取方法包括获取待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差；获取待测孔的实效尺寸以及测量销的直径公差；通过待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差确定测量销的名义尺寸；通过测量销的名义尺寸及测量销的尺寸偏差确定测量销的尺寸；通过测量销的总公差，及测量销的直径公差确定测量销的位置度公差。本发明的技术方案解决了现有技术中设计人员靠经验来对测量销的尺寸和测量销的位置...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。