技术编号：6058949
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开了一种用于集成无源器件的测试板以及测试系统。一种用于集成无源器件的测试板，包括测试结构和校准结构，其特征在于所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上，并且与所述测试结构的布局相同。依照本实用新型的用于集成无源器件的测试结构，在测试板上设计了IPD芯片的高频测试连接端口和误差校准结构，实现了测试点的连接，又通过校准结构的设计巧妙地消除测试链路中的误差，方便地进行IPD高频测试的校准和测试，提供了一种便捷准确的测量方式，满足IPD芯片研发工...
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