技术编号:6070018
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,由不同长度的吸收体构成,所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本实用新型的优点是数据之间彼此离散,串扰减小,解谱精度提高。专利说明一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 [0001] 本实用新型涉及一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,属于X射线能谱 测量。 背景技术 [0002]...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。