技术编号：6101040
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明的数字CMOS片上温度传感器，涉及集成电路设计中的面向热测试的设计(DfTT)，片上实时温度监测和温度保护问题。背景技术 自从上世纪五十年代集成电路研制成功以来，其功能和规模得到了迅速的发展。在过去的几十年里，集成电路的集成度一直按照摩尔定律所预言的速度提高，大概每隔18个月就会增长一倍。集成电路已经从当初的小规模发展到如今的超大规模(VLSI)和甚大规模(ULSI)水平，特征尺寸也已经进入了深亚微米(DSM)和超深亚微米(VDSM)阶段，并且可以工...
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