技术编号：6111290
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于物体辐射透视成像的探测器，特别涉及一种探测器阵列和使用该探测器阵列的设备，以消除利用交替产生的射线检查被检物体的过程中出现的边缘处对物体材料的错误识别和识别不准确问题，并可以加倍提高扫描检查效率。背景技术随着海关和安全检查系统要求的不断提高，利用两种不同能量的X射线对被检物体进行无损检查，同时实现对被检物体的物质材料识别的技术已经开始被广泛推广，如美国专利US 5,044,002。最近，在大型客体的无损检测中，在高能段(＞1MeV)的双能法来...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。