技术编号：6111947
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及可见/近红外光电材料光致发光特性测试方法及装置，具体的说，主要是一种600-700nm附近波段傅立叶变换(FTIR)光致发光谱的方法及装置。背景技术 基于傅立叶变换红外光谱仪的光致发光谱是一种研究红外半导体材料光电性能的先进方法，它不仅能揭示材料的禁带和带尾态等电子带结构，而且能提供杂质和深能级缺陷等信息。然而，在可见/近红外波段，由于傅立叶变换红外光谱仪内部用于光路准直和采样控制的氦氖(He-Ne)激光(波长为632.8nm)的干扰，严重影响了...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。