技术编号:6121283
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种电子电路,具体涉及一种包括多个时钟域的可测 试集成电路。本发明还涉及一种用于对这种电子电路进行测试的方法 以及用于对这种电子电路进行测试的测试器装置。背景技术美国专利号6, 131, 173公开了一种包括多个时钟域的可测试集 成电路。随着当今集成电路大小的增大,将集成电路的功能电路分成 不同的时钟域己经变得必要。在正常操作期间,这种集成电路使用多 个部分上或全部独立的时钟信号,以控制不同时钟域内的电路操作。 典型地,集成电路包括多个内部时钟电...
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