技术编号：6122119
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及诸如用于测试半导体器件的探针卡，更具体地，涉 及一种用于改进功率输出的具有介电4妄口的改进纟笨针卡。本发明还 可应用于用以测试去于装的插座。背景技术探针卡通常用于测试包括存储器芯片的集成电路器件。在待测 半导体器件上，某些传统的探针卡的一侧具有经排列与外部电触点接触的一排金属探针(通常呈焊盘或凸块形式)。通过在器件上排 列焊点或凸块来控制探针的排列。这些探针通常被安装在探针头内。例如，揮4十的相反端可以连4妄至空间变4灸器(space trans...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。