技术编号：6123791
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于X射线荧光光谱分析，具体地讲，涉及一种X射线荧光光谱测定样品的方法及其所使用的标准样品的制备方法，更具体地说，涉及一种X射线荧光光谱测定硬质合金成分的方法及其所使用的标准样品的制备方法。背景技术硬质合金的牌号众多，各种产品牌号的元素含量范围差异较大，而各成分的含量直接影响到硬质合金成品的使用性能，因此，快速、准确地测定如钨基硬质合金等硬质合金的烧结前混合料和硬质合金产品中各金属元素的含量尤为重要。X射线荧光光谱法因分析速度快、精密度高、制样简单、...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。