技术编号：6125957
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种APS芯片测试及筛选方法。背景技术有源像素图像传感器件APS当前在宇航任务中应用广泛，多用于星敏感器、对地观测相机等空间成像类敏感器。目前国内宇航任务使用的APS芯片均为进口器件，其宇航级器件成本高、采购周期长，工业级APS芯片质量不能保证直接应用于宇航产品，需要对其筛选，保证其性能满足宇航任务的需求。芯片出厂前，厂家在采用专用的仪器设备，对器件的内部结构进行检查从而进行筛选。芯片出厂后，则不能对其内部结构进行检查，只能通过外部性能参数变化来...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。