技术编号：6144127
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于，特别是关于使用测量在被检光学系统所发生的波面变化的信息的波面感测器的技术。背景技术已知由光学系统(包含透镜、反射镜等单体的光学构件的广义概念)会发生波面像差。实际制作的透镜的波面像差，会有从透镜设计中的波面像差设计值偏离的情形。例如专利文献l，是已知的使用干涉法以外的方法，其是以由利用透镜阵列的夏克-哈特曼(Shack-Hartmann)法形成的波面感测器做为测量被检光学系统的波面像差的波面像差测量装置。 专利文献1 日本专利第3417399...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。