技术编号：6154748
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关探针卡的，特别是指一种用于测试影像感测芯片的悬臂式 探针测试装置，并能在电路板有限的面积下形成更多的测试作业区。背景技术一般测试半导体芯片的探针卡，主要是作为测试机台与半导体芯片之间的连接对 象，由测试机台提供电压使半导体芯片产生相对电性讯号而进行测试。但是若为影像感测 芯片(例如CCD或CMOS)的测试，则须将测试光线照射到影像感测芯片的光学感应区，芯片 因受光线的照射会产生电性变化，并产生电性讯号至所连接的探针卡及测试机台处。由于 与公知一...
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