技术编号：6164267
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种。该方法通过对分光光度计仪器间的漂移误差、线性误差、非线性误差进行建模，利用两台分光光度计测得的校准样本的标准光谱和测试光谱，采用最小二乘法拟合优化出各波长的修正系数，从而校准了分光光度计仪器间的误差，即将测试分光光度计测得的光谱数据校准到标准分光光度计测得的光谱数据。该发明应用简单、精度高、具有很高的实用价值。专利说明[0001]本发明涉及一种校准仪器间误差的方法，具体是涉及一种 。背景技术[0002]随着科学技术的进步和全球化的发展，准...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。