技术编号：6168479
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种透射X射线分析装置，其在利用TDI传感器检测样品的透射X射线像时，能够容易且在宽范围内调整TDI传感器的累加级数。一种检测带状连续的样品（100）的透射X射线像的透射X射线分析装置1，其具备时间延迟积分方式的TDI传感器（14）；与TDI传感器相向配置的X射线源（12）；一对支承辊（31、32），其在TDI传感器和X射线源之间沿连结TDI传感器和X射线源的检测方向S离开TDI传感器而配置，并保持TDI传感器和样品之间的间隔为固定的同时，将样品...
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