技术编号：6170394
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置，包括晶体谐振器、起振电路和频率测量单元，起振电路的输入端与晶体谐振器的电极相连，起振电路的输出端与频率测量单元电连接，待测量光束入射在晶体谐振器的工作面；本发明的测量方法和装置在应用中将入射激光高反射，降低了对测量系统承受激光辐照能力的要求，可用于长时间出光条件下高能激光参数测量，在实施中将激光的功率转换为频率测量，利用现代频率测量技术具有的测量精度和分辨率高等特点，使其可满足不同功率条件下激光参数...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。