技术编号:6173399
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种X射线组合折射透镜的聚焦性能测试方法,实现该方法的装置包括底座导轨、依次位于底座导轨上的调整台、X射线组合折射透镜和X射线CCD,X射线光管/激光器、X射线组合折射透镜、X射线CCD形成探测光路,包括如下步骤(1)在显微镜下观察并制作标记标示X射线组合折射透镜的光轴;(2)将激光器移入探测光路,使得激光器与X射线组合折射透镜上的两个光轴标记线重合;(3)将激光器移出光路,同时X射线光管移入探测光路;(4)X射线CCD进行图像记录,通过对所记录图像进行图...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。