技术编号：6184884
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学干涉测量的方法和仪器，特别是对复合材料、透明或半透明多层树脂涂层进行三维离面位移场分布测量的方法及仪器。技术背景随着航空航天工业技术的发展，不同强度、刚度和材质的复合材料构件应用得越来越多。由于内部各种不同材料组分和结构之间的复杂耦合效应给其力学性能的分析和表征实验方法带来了更大的挑战，所以需要可以透视测量复合材料构件内部力学量三维位移场分布的实验仪器和方法。测量复合材料构件内部三维位移场分布具有很强的实用性。由于制造工艺的不稳定，复合材...
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