技术编号:6190540
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种天线相位的测试系统,其包括天线承载机构,用于承载待被测试的天线;网络分析仪,与天线连接,用于向天线发送第一信号,天线根据第一信号发射第二信号;探头,用于接收天线发射的第二信号;探头承载机构,用于承载探头;处理器,分别与天线承载机构和探头承载机构连接,用于将天线划分为多个测试区域,并控制探头承载机构相对于天线承载机构运动,以使探头获取多个测试区域的第二信号;其中,网络分析仪还与探头连接,并从探头获取第二信号,网络分析仪根据第一信号和第二信号获...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。