技术编号：6222036
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种聚合物及电子元器件中六价铬Cr(VI)含量的定量分析方法，其通过对样品的称取、消化、过滤、酸化、显色和对比工作曲线等步骤使用紫外光谱测量聚合物及电子零件中六价铬含量。本发明操作简单，试剂仪器易得，具有良好的重复性、再现性和准确度，能快速准确地分析聚合物及电子元器件中六价铬含量。专利说明[0001]本发明涉及，更具体地，涉及使用紫外光谱测量聚合物及电子零件中六价铬含量的定量分析方法。背景技术[0002]六价铬Cr(VI)对人体有害，其化合物包括...
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